LED憑借自身高光效、長壽命、節(jié)能環(huán)保等顯著優(yōu)勢在照明行業(yè)中漸漸確立了龍頭地位，如室內(nèi)、室外照明等眾多領(lǐng)域。伴隨國家各類扶植政策的出臺，國內(nèi)涌現(xiàn)出大批LED照明產(chǎn)品制造廠商，但是LED照明產(chǎn)品質(zhì)量良莠不齊，在一定程度上影響了LED照明產(chǎn)品的推廣。很據(jù)市場質(zhì)檢專項抽查，LED照明產(chǎn)品不合格率達(dá)到73.9%，其中不合格項主要集中在諧波電流、浪涌沖擊、騷擾電壓等電磁兼容測試項目。電磁兼容性（EMC）是影響LED照明產(chǎn)品可靠性的重要因素。

1、EMC測試標(biāo)準(zhǔn)

目前國際上尚無針對LED照明產(chǎn)品專用的EMC標(biāo)準(zhǔn)，目前的作法是根據(jù)LED照明產(chǎn)品應(yīng)用的領(lǐng)域，參考執(zhí)行相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。如車用LED照明產(chǎn)品應(yīng)參照CISPR25《用于保護(hù)車輛接收機(jī)的無線電騷擾特性的限值和測量方法》、ISO7637-2《道路車輛 由傳導(dǎo)和耦合引起的電騷擾 沿電源線的瞬態(tài)傳導(dǎo)》和ISO11452《道路車輛 用窄帶發(fā)射的電磁能量進(jìn)行電磁干擾 部件試驗方法》等標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行EMC測試，這部分內(nèi)容本文不作討論。本文探討的重點是一般用途LED照明產(chǎn)品（除車用照明、航空照明、影印機(jī)等專用LED照明設(shè)備）的EMC測試標(biāo)準(zhǔn)，具體如表1所示。

2、EMC測試項目

LED照明產(chǎn)品的EMC測試項目目前可以分為電磁干擾（EMI）和電磁敏感度（EMS）。EMI（Electromagnetic Interference）即電磁干擾測試，是測試LED照明產(chǎn)品產(chǎn)生的可能引起其它事物（包括設(shè)備、系統(tǒng)、人及動植物）性能降低或產(chǎn)生損害的電磁騷擾。EMS（Electromagnetic Susceptibility)即電磁敏感性（抗擾度）測試，是測試LED照明產(chǎn)品對電磁騷擾如雷擊、ESD靜電抗擊測試和振鈴波等抗擾能力。

  表2 LED照明產(chǎn)品的EMC測試項目

     表2列舉了LED照明產(chǎn)品的EMC測試項目、包括主要測試內(nèi)容、主要測試設(shè)備、測試環(huán)境。以下將著重討論EMI電磁干擾、靜電放電、浪涌沖擊這三方面測試內(nèi)容。

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2.1、EMI測試

 電磁干擾EMI(Electromagnetic Interference)，有傳導(dǎo)干擾和輻射干擾兩種。傳導(dǎo)干擾是指通過導(dǎo)電介質(zhì)把一個電網(wǎng)絡(luò)上的信號耦合（干擾）到另一個電網(wǎng)絡(luò)。輻射干擾是指干擾源通過空間把其信號耦合（干擾）到另一個電網(wǎng)絡(luò)。在高速PCB及系統(tǒng)設(shè)計中，高頻信號線、集成電路的引腳、各類接插件等都可能成為具有天線特性的輻射干擾源，能發(fā)射電磁波并影響其他系統(tǒng)或本系統(tǒng)內(nèi)其他子系統(tǒng)的正常工作。眾所周知，EMC的測試目標(biāo)是電子電器設(shè)備，而照明設(shè)備作為其中重要的一塊，自然也有相應(yīng)的約束。如美國的FCC認(rèn)證，歐盟的CE認(rèn)證等都對LED照明設(shè)備提出了相關(guān)的測試項目。當(dāng)談?wù)摰诫姶鸥蓴_時，一般來講有兩種干擾源；一種是傳導(dǎo)干擾，主要是電子設(shè)備產(chǎn)生的干擾信號通過導(dǎo)電介質(zhì)或公共電源線互相產(chǎn)生干擾，LED燈具的FCC認(rèn)證傳導(dǎo)干擾掃瞄測試頻率從0.15MHz開始至30MHz結(jié)束，CE認(rèn)證中的傳導(dǎo)干擾掃瞄測試頻率從9KHz開始至30MHz結(jié)束。 另外一種干擾是輻射干擾，主要是指電子設(shè)備產(chǎn)生的干擾信號通過空間耦合把干擾信號傳給另一個電網(wǎng)絡(luò)或電子設(shè)備，LED燈具的FCC認(rèn)證空間輻射干擾掃瞄測試頻率從30MHz開始至1GHz結(jié)束，CE認(rèn)證中的空間輻射干擾掃瞄測試頻率從30KHz開始至300MHz結(jié)束。

 在照明行業(yè)中，在測試9KHz-30MHz波段的EMI中有兩種方法，一種是采用Antenna（天線）和EMI接收機(jī)，其依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)是CISPR15，EN55015，GB17743。對于照明燈具可能產(chǎn)生的低頻磁場設(shè)備，需要采用CISPR16-1-4規(guī)定的三環(huán)天線測量其低頻磁場輻射騷擾。主要是由三環(huán)天線和EMI接收機(jī)進(jìn)行測試，測試時需在屏蔽室室內(nèi)進(jìn)行。注：三環(huán)天線將X方向，Y方向和Z方向低頻磁場分量轉(zhuǎn)化為RF信號，并通過同軸開關(guān)三個通道輸送到EMI接收機(jī)進(jìn)行測量；另外一種是采用LISN測試方法，測試時需要由EMI接收機(jī)+人工電源網(wǎng)絡(luò)+LISN和測試軟件進(jìn)行。傳導(dǎo)騷擾測試系統(tǒng)用于測量燈和燈具照明設(shè)備在正常工作狀態(tài)下電源端口產(chǎn)生的騷擾，LISN實現(xiàn)RF信號的隔離，采樣，阻抗匹配，并為EUT提供電通道，EMI接收機(jī)對RF信號進(jìn)行測量，并*終由EMI測試軟件進(jìn)行分析，處理和判限。測試時需在屏蔽室進(jìn)行。

 與此同時，在9KHz-300MHz波段的EMI測試中采用的是CDN法。在CISPR15，EN55015和GB17743標(biāo)準(zhǔn)中還提供另外一種照明設(shè)備的輻射電場騷擾測試方法，即CDN共模端子電壓法。采用CDN法，主要包括EMI接收機(jī)，CDN和衰減器。測試時可以在屏蔽室內(nèi)進(jìn)行。

 根據(jù)相關(guān)基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)如CISPR16，力汕研發(fā)生產(chǎn)了兩款EMI測試設(shè)備，而針對傳統(tǒng)及新型照明行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，兩款設(shè)備的掃描頻率各不同， EMI-9KB EMI掃描頻率為9KHz~300MHz，適合LED及傳統(tǒng)照明設(shè)備的檢測； EMI-9KA EMI掃描頻率為9KHz~30MHz則主要適合傳統(tǒng)照明設(shè)備的檢測。而判定被測物是否符合標(biāo)準(zhǔn)，我們引用了峰值，準(zhǔn)峰值和平均值三個值來判定，考慮到不同標(biāo)準(zhǔn)的差異，軟件可直接調(diào)用GB17743、FCC、EN55015、GB4343等判定標(biāo)準(zhǔn)。

2.2、靜電放電

LED屬于半導(dǎo)體器件，在LED制造、裝配、運輸、存儲、使用各階段中，生產(chǎn)設(shè)備、材料、和操作者都可能給LED帶來靜電損失，導(dǎo)致LED過早出現(xiàn)漏電流增大、光衰加重，甚至“死燈”現(xiàn)象。靜電放電對LED的電光參數(shù)包括反向漏電流、正向I-V特性、光通量均會造成一定程度的劣化。靜電放電是影響   LED及LED照明產(chǎn)品可靠性的重要因素之一。

LED是LED照明產(chǎn)品的關(guān)鍵材料。對于LED的靜電放電抗擾度測試，應(yīng)遵循相關(guān)國際標(biāo)準(zhǔn)如美國國家標(biāo)準(zhǔn)ANSI/ESD STM5.1、ANSI/ESD STM5.2，國際電子電工協(xié)會標(biāo)準(zhǔn)JESD22-A114D、JESD22-A115-A，美國軍方標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-883等。上海力汕電子科技研發(fā)的的ESD61000-2靜電放電發(fā)生器專門針對LED靜電敏感等級判定要求及特點而設(shè)計，采用機(jī)器模式（MM）及人體模式（HBM）靜電放電試驗，靜電放電電壓*高可達(dá)30KV；LED電壓、電流測量準(zhǔn)確度可達(dá)0.2%；LED正向電壓分辨率1mV；反向漏電流分辨率0.01μA。對于LED照明產(chǎn)品而言，其整體的靜電放電抗擾度測試須按照GB/T 17626.2/IEC61000-4-2進(jìn)行。接觸放電是優(yōu)選的測試方法，對LED照明產(chǎn)品機(jī)殼上每個可觸及的金屬部件（不包括接線端）進(jìn)行20次連續(xù)放電，正負(fù)極性各10次。在無法進(jìn)行接觸放電的部位可使用空氣放電。間接放電應(yīng)根據(jù)GB/T17626.2的規(guī)定施加于水平或垂直耦合板上。為確保測試結(jié)果的重復(fù)性和一致性，靜電放電試驗必須按照GB/T17626.2第7章節(jié)內(nèi)容規(guī)范布置。ESD61000-2靜電放電發(fā)生器校準(zhǔn)數(shù)據(jù)如下：

                                   校準(zhǔn)數(shù)據(jù)：