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IC靜電放電測試之I/O Pin

日期:2024-10-19 08:10
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摘要:
IC靜電放電測試之I/O Pin
    集成電路芯片的靜電放電測試,詳細的可以分為對I/O Pin靜電測試、Pin-to-Pin靜電測試、VDD-to-VSS靜電測試和Analog Pin靜電測試,本文著重講下I/O Pin靜電測試:
  靜電的累積可能是正的或負的電荷,因此靜電放電測試對同一IC腳而言是具有正與負兩種極性。對每一I/O (Input or Output) Pin而言,HBM與MM靜電放電對IC的放電,有下列四種ESD測試組合,其等效電路示意圖如圖3.1-1所示。

1. PS-mode:VSS腳接地,正的ESD電壓出現(xiàn)在該I/O腳對VSS腳放電,此時VDD與其他腳皆浮接;
2. NS-mode:VSS腳接地,負的ESD電壓出現(xiàn)在該I/O腳對VSS腳放電,此時VDD與其他腳皆浮接;
3. PD-mode:VDD腳接地,正的ESD電壓出現(xiàn)在該I/O腳對VDD腳放電,此時VSS與其他腳皆浮接;
4. ND-mode:VDD腳接地,負的ESD電壓出現(xiàn)在該I/O腳對VDD腳放電,此時VDD與其他腳浮接。

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