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IC靜電放電測(cè)試之Pin-to-Pin
日期：2024-10-19 08:10
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摘要：
IC靜電放電測(cè)試之Pin-to-Pin
靜電放電可能出現(xiàn)在IC的任何兩隻腳之間，若該兩隻腳之間無直接的相關(guān)電路，**共同使用的是VDD與VSS電源線相連接。ESD發(fā)生在不相干的兩支IC腳之間時(shí)，靜電放電電流會(huì)先經(jīng)由某部份的電路跑到VDD或VSS電源線上，再由VDD或VSS電源連接線跑到另一支IC腳，再由那支IC腳流出IC之外。若每一IC的每?jī)赡_之間都要做測(cè)試，那麼一顆40 pin的IC便要有1560種排列組合的ESD測(cè)試，這太浪費(fèi)測(cè)試時(shí)間。因此，改良式的測(cè)試方法如圖3.1-2所示，即所謂的Pin-to-Pin 測(cè)試。在該P(yáng)in-to-Pin 測(cè)試組合中，亦由於靜電放電的正負(fù)極性而分成兩種測(cè)試模式 :
如上圖所示，Pin-to-Pin 的靜電放電測(cè)試組合Positive-mode:正的ESD電壓出現(xiàn)在某一I/O 腳，此時(shí)所有其他I/O 腳皆一起接地，但所有的VDD腳與VSS腳皆浮接；Negative-mode:負(fù)的ESD電壓出現(xiàn)在某一I/O 腳，此時(shí)所有其他I/O 腳皆一起接地，但所有的VDD腳與VSS腳皆浮接。
如想了解靜電放電發(fā)生器的詳細(xì)資料，可點(diǎn)擊鏈接：www.dgzhongsheng.com/ProductShow.asp。
靜電放電可能出現(xiàn)在IC的任何兩隻腳之間，若該兩隻腳之間無直接的相關(guān)電路，**共同使用的是VDD與VSS電源線相連接。ESD發(fā)生在不相干的兩支IC腳之間時(shí)，靜電放電電流會(huì)先經(jīng)由某部份的電路跑到VDD或VSS電源線上，再由VDD或VSS電源連接線跑到另一支IC腳，再由那支IC腳流出IC之外。若每一IC的每?jī)赡_之間都要做測(cè)試，那麼一顆40 pin的IC便要有1560種排列組合的ESD測(cè)試，這太浪費(fèi)測(cè)試時(shí)間。因此，改良式的測(cè)試方法如圖3.1-2所示，即所謂的Pin-to-Pin 測(cè)試。在該P(yáng)in-to-Pin 測(cè)試組合中，亦由於靜電放電的正負(fù)極性而分成兩種測(cè)試模式 :
如上圖所示，Pin-to-Pin 的靜電放電測(cè)試組合Positive-mode:正的ESD電壓出現(xiàn)在某一I/O 腳，此時(shí)所有其他I/O 腳皆一起接地，但所有的VDD腳與VSS腳皆浮接；Negative-mode:負(fù)的ESD電壓出現(xiàn)在某一I/O 腳，此時(shí)所有其他I/O 腳皆一起接地，但所有的VDD腳與VSS腳皆浮接。
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